先端材料科学センターには、物理分析に優れた走査電子顕微鏡（SEM）や集束イオンビームー加工装置（FIB）、透過電子顕微鏡（TEM）などが供えられています。これらの装置は、毎年行われる講習会を受講していただき、利用申請が認められた研究者達が自分自身で操作し、分析を進めます。（大学生、大学院生も講習会を受け、指導教員の指導の下で利用できます。）分析会社に依頼して分析結果を見るのではなく、自分自身で分析装置の利点弱点を理解した上で利用できますので、学生達にとっても意義深い研究を進める場として利用されています。
 

平成30年度事業概要一部抜粋

　先端材料科学センターには，加速電圧200keVの透過型電解放射電子顕微鏡（FE-TEM）,走査型電子顕微鏡（FE-SEM），X線光電子分光装置（ESCA），集束イオンビーム加工装置（FIB）などの装置を備え，物質の表面をナノメートルサイズで調べることができる．さらに，エネルギー分散型X線元素分析装置（EDX）を導入し，元素分析機能を拡充した．また，材料の組成や原子の結合状態の分析，数十nmオーダーの微細加工・構造形成も可能である．なお，それらの機器取り扱い講習会に加え「材料科学に関する若手フォーラム」を開催し，本学の材料科学に関する基礎研究から応用研究まで幅広い研究活動に寄与している．

　また，本センターを活動中心とした大型研究プロジェクトとして，平成25年度に私立大学戦略的研究基盤形成支援事業が選定され，5年に亘る領域横断型共同研究活動の実施とともに研究環境の拡充を大きく推進した．主として材料分析に傾注してきたセンター機能を，電子線描画装置（EBL），環境可変任意形状微細試料特性評価システム（Prober）等の導入により「極微細素子の形成・特性評価」にまで拡大する事で，スピントロニクス分野における研究や研究交流も活性化している．